X射線是表面殘餘應力測定技術中為數不多的無損檢測法之一 ，是根據材料或製品晶面間距的變化測定應力的 ，至今仍然是研究得廣泛 、深入 、成熟的內應力測量方法 ，被廣泛的應用於科學研究和工業生產的各領域 。2012年日本Pulstec公司開發出基於全二維探測器技術的新一代X射線殘餘應力分析儀——μ-X360n ，將利用X射線研究殘餘應力的測量速度和精度推到了一個全新的高度 ，設備推出不久便得到業界的廣泛好評 。由於其技術測試數據可重複性之高 、使用之便攜 ，設備一經推出便備受業界青睞 ！ 近期 ，日本Pulstec公司成功克服技術難點 ，發佈了新的產品型號 ：μ-X360s ，將全二維面探測器技術的產品設計和功能完善再次升級 ！
